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rx solutions丨纳米级工业ct作为成像技术领域具有发展前景的技术之一

发布者：无锡瑞埃德检测科技有限公司点击：4785 发布时间：2024-12-09

x射线纳米断层扫描是建立在现有微米级工业ct技术的基础之上，将渲染三维图像的分辨率提高到亚微米级别，而分辨率的提高能帮助客户更清晰地看到零部件的内部缺陷。我们将其称为“纳米级工业ct”，“纳米”一词用来表示扫描获得的截面上最小的像素尺寸在纳米范围内。

如大家所知，x射线断层扫描技术是一种无损检测技术，在许多行业中被用作检查零件内部和外部结构。在过去的十年中，纳米级别的工业ct得到了巨大的技术改进，现在能够提供更好的成像效果。

要做到纳米级别的扫描效果，设备通常要求非常小的样件扫描尺寸，但是目前的技术对于样件的制备基本没有要求，这就意味着任何样件只要尺寸控制到位，都可以通过扫描获取整个的三维模型，这样的话就大大节省了样件制备的时间，帮助客户优化了成本。

同时根据应用情况，纳米级工业ct中的射线源焦点尺寸可小于400纳米，结合功能强大的探测器（如ccd摄像头），设备可实现高达400纳米的真实分辨率，性能大大超过传统的微米级工业ct系统。射线源焦点的尺寸大小是微米级工业ct和纳米级工业ct之间的关键区别，焦点尺寸越小，整个系统的细节识别能力就越强。

如图所示为纳米级ct

在复合材料上应用案例

分辨率为0.7µm

与传统的微米级工业ct一样，纳米级工业ct作为成像技术领域中最具有发展前景的技术之一，也在不断改进中。作为行业内重要参与者，rxsolutions可以提供产品线完善而功能强大的纳米级工业ct，涵盖工业、学术、科研等多个应用领域。

目前，无锡瑞埃德检测有幸成为工业ct领跑企业――法国rx solutions 中国区市场拓展伙伴，将努力为大家提供最好的服务和产品，助力中国产业提升。

本公司主营项目：测量仪器,轴类测量仪,光学轴类测量仪,vicivision,工业ct,无损检测,3d扫描,光学三坐标,x射线三维成像

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