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关于轴类测量仪测量粗糙工件方法的介绍
发布者:admin  点击:368 发布时间:2023-6-29
       轴类测量仪是一种利用光学显微镜放大物体,然后通过CCD摄像系统将被测物体的图像传输到与仪器相连的计算机,然后用于非接触和检测各种复杂工件的几何量的设备。
       在实际测量过程中,轴类测量仪测量的工件不全光滑,需要测量一些粗糙的工件。一般来说,光滑的工件成像会更清晰,所以测量结果会更好,而粗糙的工件则不同,成像可能不清晰,会从各个方面影响测量结果。因此,轴类测量仪在测量粗糙时需要采取相应的方法才能得到准确的结果。

       一般来说,轴类测量仪在测量粗糙工件时可以采用以下三种方法,即印模法、干涉法和光切法。印模法是指工件在测量前使用石蜡或一些低熔点合金等印模材料,印在测量工件表面,然后放置在轴类测量仪的显微镜下进行测量。虽然这种方法可以很好地测量结果,但也有局限性,主要适用于大型或大型工件。
       干涉法是指利用轴类测量仪的光波干涉原理,然后使用干涉显微镜进行具体尺寸测量。光切割法也采用轴类测量仪的光切割原理,采用设备的双管显微镜进行相关测量。
       本公司主营产品:轴类自动影像测量仪,轴类测量仪,光学轴类测量仪,vicivision ,3D扫描,光学三坐标 ,X射线三维成像

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