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RX Solutions丨纳米级工业CT作为成像技术领域具有发展前景的技术之一 |
发布者:admin 点击:1267 发布时间:2021-11-25 |
X射线纳米断层扫描是建立在现有微米级工业CT技术的基础之上,将渲染三维图像的分辨率提高到亚微米级别,而分辨率的提高能帮助客户更清晰地看到零部件的内部缺陷。我们将其称为“纳米级工业CT”,“纳米”一词用来表示扫描获得的截面上最小的像素尺寸在纳米范围内。
如大家所知,X射线断层扫描技术是一种无损检测技术,在许多行业中被用作检查零件内部和外部结构。在过去的十年中,纳米级别的工业CT得到了巨大的技术改进,现在能够提供更好的成像效果。
要做到纳米级别的扫描效果,设备通常要求非常小的样件扫描尺寸,但是目前的技术对于样件的制备基本没有要求,这就意味着任何样件只要尺寸控制到位,都可以通过扫描获取整个的三维模型,这样的话就大大节省了样件制备的时间,帮助客户优化了成本。
同时根据应用情况,纳米级工业CT中的射线源焦点尺寸可小于400纳米,结合功能强大的探测器(如CCD摄像头),设备可实现高达400 纳米的真实分辨率,性能大大超过传统的微米级工业CT系统。射线源焦点的尺寸大小是微米级工业CT和纳米级工业CT之间的关键区别,焦点尺寸越小,整个系统的细节识别能力就越强。
如图所示为纳米级CT
在复合材料上应用案例
分辨率为0.7µm
与传统的微米级工业CT一样,纳米级工业CT作为成像技术领域中最具有发展前景的技术之一,也在不断改进中。作为行业内重要参与者,RX Solutions可以提供产品线完善而功能强大的纳米级工业CT,涵盖工业、学术、科研等多个应用领域。
目前,无锡瑞埃德检测有幸成为工业CT领跑企业——法国 RX Solutions 中国区市场拓展伙伴,将努力为大家提供最好的服务和产品,助力中国产业提升。
本公司主营项目:测量仪器,轴类测量仪,光学轴类测量仪,vicivision,工业CT,无损检测,3D扫描,光学三坐标,X射线三维成像 |
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