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| RX Solutions CT 功能展示(一) |
| 发布者：admin 点击：2421 发布时间：2020-12-8 |
01几何学和计量学
RX solutions计算机断层扫描是一项功能强大的无损检测技术，允许在多种可能性中检测复杂的组件和材料。CT是基于无损方式提供检测结果的一种简单而有效的方法，重要的生成数据，通过重构完整的 3D 模型来观察内部特征。使用 CT 可以执行多种应用，从传统的工业分析（如工艺缺陷检测样品（空隙、裂纹、孔隙、夹杂物）到测量任务，作为外部的尺寸测量以及复杂几何的内部特征。计量和测量应用要求对产生的CT体积进行虚拟分割，以分离不同的组件（材料、空气、泡沫等）并创建表面分析。3D 模型允许在大多数样品中进行大量测量，包括传统测量设备作为光学或接触式测量无法实现的复杂测量。
 02坐标尺寸测量
X 射线计算断层扫描应用于越来越多的工业尺寸计量。产品的复杂性和多样性，加上对生产和产品开发的成本和时间效率解决方案的要求，在测试产品和产品质量方面带来了新的挑战。CT 是一种强大的无损技术，能够测量和表征 3D 体积中物体的内部和外部结构，以计算表面和特征上的各种参数。与形状复杂性不同，基于CT生成的高密度3D点云体积，可以执行任何传统的测量，包括GD&T尺寸测量和位置公差，如平行度、垂直度、同心度...无损和非接触式测试允许检测多个工业部件。在大多数情况下，CT 成为鉴定和检查复杂零件或组装件的基本技术。
 03壁厚分析——材料厚度的测定
 壁厚是工业设计师必须解决的许多计量难题之一。大多数工业部件，包括管道、瓶子、药丸、涡轮叶片，均按壁厚指定，以确保预期的机械强度和重量。测量 CT 扫描生成的3D体积的材料厚度非常易于观察。结果使用颜色代码显示，显示厚度超过给定公差的区域，并提供最小、******、平均值或标准偏差。壁厚分析完成样品的表征，提供易于观察计算的 3D 彩色视图和横截面壁厚测量。
    RX为您提供强大和高质量的X射线计算机断层扫描系统，在复合材料方向计算机断层扫描和RX Solutions解决方案系统均可以给予您帮助。
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